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    深圳市華得隆科技有限公司供應(yīng)的島津熒光光譜儀又稱熒光分光光度計(jì)，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。島津熒光光譜儀是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

    島津熒光光譜儀操作簡便，工作效率高，一般多元素樣品分析時(shí)間為2-3分鐘，儀器維護(hù)費(fèi)用低，且儀器壽命長，比其他于元素分析儀器購置費(fèi)用低等突出的特點(diǎn)。故目前的在各個(gè)行業(yè)的化學(xué)分析專業(yè)均有應(yīng)用。近幾年特別是在冶金行業(yè)尤為突出。如黑色，有色金屬中的各種合金材料，貴金屬，冶金的各種原料，礦石，鐵合金類，爐渣，保護(hù)渣，耐火材料等均有良好的應(yīng)用實(shí)踐。 熒光能譜儀具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，在不同的領(lǐng)域應(yīng)用顯示出不同的鮮明特點(diǎn)。在國外化學(xué)分析領(lǐng)域已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用。由于這是一種新的分析手段。進(jìn)入中國分析儀器市場時(shí)間不長（1992年以后），許多化學(xué)分析，材料分析領(lǐng)域的科研人員尚不熟悉。希望通過本文的介紹，可以引起科研，檢驗(yàn)，化學(xué)分析人員的關(guān)注。 一般說來，現(xiàn)在的XRF能夠滿足一般分析測試的需求，對于RoHS指令，其誤差主要來自于樣品以及標(biāo)準(zhǔn)。因此需要對樣品的制備和處理相當(dāng)重視。同時(shí)XRF作為一種比較分析技術(shù)，要求所有進(jìn)入儀器測試的標(biāo)準(zhǔn)樣品和未知樣品具有相同的形貌和重現(xiàn)性。任何樣品制備方法，都必須保證樣品制備的重復(fù)性，并在一定的濃度范圍內(nèi)使樣品具有相似的物理性質(zhì)。

    熒光光譜分析定性篩查采用定性分析方法來辨認(rèn)管制物的存在與否。和其他分析程序相比，此測試方法具有快速、很少或者不需要制備樣品，以及寬的動力學(xué)范圍。所用的設(shè)備很多比其他方法用到的成本更低。取決于控制物質(zhì)的可接受的標(biāo)準(zhǔn)，以及分析儀器的性能，本測試不能作為裁決性的結(jié)果。如果是碰到后者的情況，本測試執(zhí)行完畢后必須繼續(xù)執(zhí)行定量篩查分析或者其他驗(yàn)證測試程序來決定樣品中管控物質(zhì)的存在與否以及濃度。

    熒光光譜儀必須注意的是X射線熒光光譜分析只提供管制物質(zhì)以元素形式存在與否的信息。特別注意的地方例如對于Cr和Br，其結(jié)果只反映總Cr和總Br的存在，而不是管制的Cr(Vi)和PBB,PBDE。因此Cr(VI),PBB,PBDE的存在必須使用驗(yàn)證測試程序來確認(rèn)，如果檢測的到Cr或者Br存在。相反必須注意的是如果本方法沒有檢測到Cr和Br的元素形式存在，那么也肯定沒有Cr(VI)和PBB，PBDE。由于XRF光譜法是一種比較的技術(shù)，其性能取決于校正的品質(zhì)，也就是取決于用來建立儀器校正的標(biāo)準(zhǔn)的度。XRF分析對于基體是非常敏感的。這意味著光譜以及基體干擾（例如吸收和增強(qiáng)現(xiàn)象）必須在分析的時(shí)候加以考慮，特別是復(fù)雜多變的樣品例如聚合物和電子元件。